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金屬材料檢測(cè)

顯微分析

       顯微分析是用光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡等高端分析設(shè)備觀察金屬內(nèi)部的組成相及組織組成物的類(lèi)型以及它們的相對(duì)量、大小、形態(tài)和分布等特征。材料的性能取決于內(nèi)部的組織狀態(tài),而組織又取決于化學(xué)成分及加工工藝,熱處理是改變組織的重要工藝手段,因此顯微分析是材料及熱處理質(zhì)量檢驗(yàn)與控制的重要手段。顯微分析涉及到許多樣品類(lèi)型,包括冶金和地質(zhì)樣本,電子材料,陶瓷和各種表面污染物的微觀分析。

顯微分析設(shè)備:

掃描電子顯微鏡(SEM),X射線(xiàn)能量色散譜儀(EDS),X射線(xiàn)波長(zhǎng)色散譜儀(WDS),激光共聚焦掃描顯微鏡(LSCM),原子力

顯微鏡(AFM),俄歇電子能譜儀(AES),X射線(xiàn)光電子能譜儀(XPS),透射電子顯微鏡(TEM),相移干涉儀(PSI),掃描探針顯

微鏡(SPM),光學(xué)顯微鏡(OM)

主要分析項(xiàng)目:

    表面微觀形貌分析

    表面污染物分析

    微區(qū)成分分析

    相結(jié)構(gòu)分析

    織構(gòu)分析

    金相組織分析

    鍍層厚度測(cè)試

    三維尺寸測(cè)量


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