《GB/T 41423-2022 LED封裝 長期光通量和輻射通量維持率的推算》文件由中國輕工立聯(lián)合會提出,由全國照明電器標準化技木委員會(SAC/TC 224)歸口,文件于2022-4-15發(fā)布,2022-11-1實施;等同采用IEC 63013:2017《LED封裝 長期光通量和輻射通量維持率的推算》,引用IEC 62504、ANSI/IES TM-21-19、ANSI/IES LM-80-20。
標準范圍
本文件規(guī)定了LED封裝的光通量維持率的測試程序和條件。本文件還提供了根據(jù)收集到的有限的光通量維持率測試數(shù)據(jù)來推算光通量長期維持率的程序和條件(準則)。本文件同樣適用于輻射通量和光量子通量長期維持的推算;適用于普通照明和植物光照用LED封裝。
本文件中的推算方法所使用的測試數(shù)據(jù),按照ANSI/IES LM-80-20(LM-80)的方法收集所得。長期維持的推算程序基于ANSI/IES TM-21-19(TM-21)中的指數(shù)似合函數(shù),且在ANSI/IES TM-21-19的指數(shù)似合函數(shù)不適用的情況下,給出了另一種邊界函數(shù)程序測試方法、數(shù)據(jù)收集和樣品數(shù)量應根據(jù)ANSI/IES LM-80-20規(guī)定方法收集光通量維持率的測試數(shù)據(jù);建議采用小于1000h間隔來測量光通量。測試周期宜超過6000h。
光通量維持率推算方法
推算方法包括:指數(shù)擬合函數(shù)(Exponential fit function,EFF)和邊界函數(shù)(Border function,BF),其中應將EFF作為主要推算方法,僅當EFF的α≤0時,使用BF推算。
如ANSI/IES TM-21-19所述,EFF方法基于如下假設(shè),在早期光通量衰減模式結(jié)束后,可以使用曲線擬合函數(shù)來擬合和外推后續(xù)測試數(shù)據(jù),公式如下:
f(t)=Bexp(-at)
報告要求
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