電子產(chǎn)品、元器件可靠性高低溫檢測(cè)報(bào)告辦理流程及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

高低溫試驗(yàn)是高溫試驗(yàn)和低溫試驗(yàn)的的簡(jiǎn)稱(chēng)，試驗(yàn)?zāi)康氖窃u(píng)價(jià)高低溫條件對(duì)裝備在存儲(chǔ)和工作期間的性能影響。

　　高低溫測(cè)試主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其元器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。測(cè)試設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶(hù)自定要求，在低溫、高溫、條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

　　高低溫測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

　　GB_T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫

　　GBT 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫

　　IEC 60068-2-2基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2-2部分：試驗(yàn)試驗(yàn)B:干熱

　　IEC 60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：低溫

　　辦理高低溫測(cè)試流程：

　　1、咨詢(xún)---申請(qǐng)人提供產(chǎn)品資料圖片或通過(guò)描述說(shuō)明所需要做高低溫試驗(yàn)的產(chǎn)品及材料.

　　2、報(bào)價(jià)---根據(jù)申請(qǐng)人提供的資料，技術(shù)工程師將作出評(píng)估，確定須測(cè)試的項(xiàng)目，并向申請(qǐng)方報(bào)價(jià)

　　3、申請(qǐng)方確認(rèn)報(bào)價(jià)后填寫(xiě)測(cè)試申請(qǐng)表和測(cè)試樣品

　　4、樣品測(cè)試——測(cè)試將依照所適用的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行

　　5、測(cè)試完成后提供報(bào)告。