電子元器件機(jī)械沖擊試驗(yàn)機(jī)構(gòu)
電子元器件在使用、裝卸、運(yùn)輸過程中都會受到?jīng)_擊，沖擊的量值變化很大并具有復(fù)雜的性質(zhì)。電子元器件機(jī)械沖擊試驗(yàn)適用于確定電子元器件的機(jī)械薄弱環(huán)節(jié)，考核產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的完整性。
試驗(yàn)?zāi)康呐c原理
電子元器件的機(jī)械沖擊試驗(yàn)主要是通過模擬元器件在運(yùn)輸、搬運(yùn)和使用過程中遇到的各種不同程度的機(jī)械沖擊來確定電子元器件受到機(jī)械沖擊時(shí)的適應(yīng)性或評定其結(jié)構(gòu)的牢靠性?；驹頌楫?dāng)短時(shí)間內(nèi)極大的沖擊力（極大的沖量）作用在試驗(yàn)樣品上，從而引起試驗(yàn)樣品產(chǎn)生極大的瞬態(tài)振動（位移），在試驗(yàn)樣品內(nèi)產(chǎn)生極大的應(yīng)力和應(yīng)變，抗沖擊能力弱的試驗(yàn)樣品就會因沖擊而損壞或性能降低。沖擊試驗(yàn)是瞬間性的，破壞性的。理論上跌落試驗(yàn)也算是沖擊的一種，一般沖擊試驗(yàn)機(jī)是將物品固定在平臺上，然后將平臺上升，利用重力加速度沖擊，沖擊波形有半正弦波、梯形波、三角波。
技術(shù)指標(biāo)
電子元器件機(jī)械沖擊試驗(yàn)的技術(shù)指標(biāo)包括：峰值加速度、脈沖持續(xù)時(shí)間、速度變化量（半正弦波、后峰鋸齒波、梯形波）和波形選擇。沖擊次數(shù)無特別要求外每個(gè)面沖擊3次共18次。
參考標(biāo)準(zhǔn)
GJB 360A-96標(biāo)準(zhǔn)中的方法213機(jī)械沖擊試驗(yàn)條件，GB/T2423.5-1995《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ea：沖擊試驗(yàn)方法》及《IEC60068-2-27，試驗(yàn)Ea：沖擊》和《MIF-STD202F》規(guī)范對沖擊試驗(yàn)的要求。
電子元器件機(jī)械沖擊試驗(yàn)測試報(bào)告辦理流程
1. 前期咨詢：提供需委托檢測項(xiàng)目、測試條件或測試標(biāo)準(zhǔn)；
2. 評估報(bào)價(jià)：根據(jù)檢測要求、樣品規(guī)格及參數(shù)評估報(bào)價(jià)；
3. 填寫委托書：發(fā)起檢測申請，填寫委托書；
4. 付款及提供樣品資料：按照協(xié)定報(bào)價(jià)支付費(fèi)用，按要求提供足夠數(shù)量的樣品及產(chǎn)品資料；
5. 安排檢測：按委托要求對產(chǎn)品進(jìn)行檢測；
6. 出具報(bào)告：依據(jù)檢測數(shù)據(jù)出具報(bào)告，將報(bào)告、發(fā)票及樣品回寄客戶。