測試項目： 高溫試驗（高溫啟動、高溫貯存、高溫工作、高溫老化...）、低溫試驗（低溫啟動、低溫貯存、低溫工作...）、冷熱沖擊試驗（溫度沖擊試驗）、交變濕熱試驗、溫濕度組合循環(huán)測試、快速溫變試驗、恒溫恒濕試驗等 溫濕度試驗適用于各類電子、電工、電器、塑膠、金屬、化學、建材、車輛、通訊、光纖、LED、液晶屏、儀表儀器、元器件、電路板、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的在環(huán)境下儲存、運輸和使用的適應性，安全性，持久性等。
測試標準參考：
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 A： 低溫；
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 B： 高溫；
GB/T 2423.3-2016 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 Cab：恒定濕熱試驗；
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 Db：交變濕熱（12h＋12h 循環(huán)）；
GB/T 2423.22-2012 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 N：溫度變化；
GB/T 2423.34-2012 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗Z/AD： 溫度/濕度組合循環(huán)試驗；
IEC 60068-2-1：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 A：低溫；
IEC 60068-2-1：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 B：高溫；
IEC 60068-2-78：2012電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗；
IEC 60068-2-30：2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 Db：交變濕熱（12h＋12h 循環(huán)）；
IEC 60068-2-14：2009 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 N：溫度變化；
IEC 60068-2-38：2009 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗Z/AD： 溫度/濕度組合循環(huán)試驗；
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