高低溫試驗箱
高低溫試驗箱具有良好的保溫性能，箱室上頂面裝有鼓風(fēng)機，配以箱內(nèi)風(fēng)道，使箱內(nèi)熱空氣有規(guī)律循環(huán)，從而提高了箱內(nèi)溫度均勻度。電加熱器密封式管狀形狀，以防露熱絲和低著火點氣體直接接觸而發(fā)生事故。
高低溫試驗箱測試流程：
1·當樣品斷電時，首先將溫度降至-50℃，保持4小時樣品上電時不進行低溫測試非常重要，因為芯片本身上電時溫度會高于+20℃，所以通常上電時更容易通過低溫測試，所以必須先“凍透”，再重新上電進行測試。
2.啟動機器，測試樣品的性能，與常溫相比性能是否正常。
3.進行老化測試，看是否有數(shù)據(jù)對比錯誤。
4.將溫度升至+90℃，并保持4小時。與低溫測試是相反的，芯片內(nèi)部溫度要保持在高溫狀態(tài)，加熱過程中不斷電。在4小時之后，執(zhí)行測試步驟2、3和4。
5.高溫和低溫試驗分別要重復(fù)10次。
如果測試過程在任何時候都不能正常工作，就被認為是測試失敗。
試驗標準
JUN用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗GJb150.4A-2009
JUN用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第 3 部分：高溫試驗 GJb150.3A-2009
JUN用通信設(shè)備通用規(guī)范GJb 367A-2001JUN用計算機通用規(guī)范 GJb 322A-1998
JUN用電子測試設(shè)備通用規(guī)范 GJb 3947A-2009艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 高溫試驗 GJb 4.2-1983艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 低溫試驗 GJb4.3-1983艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 低溫貯存試驗 GJb 4.4-1983技術(shù)偵察裝備通用技術(shù)要求 第 7 部分：環(huán)境適應(yīng)性要求和試驗方法 GJb 1621.7A-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2 部分：試驗方法 試驗 A：低溫 GB/T 2423.1-2008
我們秉承科學(xué)嚴謹?shù)墓ぷ鲬B(tài)度，以客戶為中心，高效統(tǒng)籌安排測試計劃，竭力縮短測試時間的周期，為客戶提供快捷、公正的第三方咨詢檢測等服務(wù)。服務(wù)區(qū)域遍布廣東廣州、深圳、東莞、佛山、中山、珠海、清遠、惠州、茂名、揭陽、梅州、江門、肇慶、汕頭、潮州、河源、韶關(guān)及全國各地如您有相關(guān)產(chǎn)品需要咨詢，歡迎您直接來電咨詢我司工作人員，獲得詳細的費用報價與周期方案等信息，深圳訊科期待您的光臨！