低頻噪聲是電子元器件在低頻段頻率范圍內(nèi)的電噪聲（電子元器件內(nèi)部的載流子隨機運動引起的電壓或電流的漲落），頻率范圍一般在1Hz~300kHz。電子器件的低頻噪聲是表征電子元器件質(zhì)量和可靠性的敏感參數(shù)，制約著整機檢驗靈敏度、噪聲大小以及保真度、誤觸發(fā)率、分辨率等指標，由于低頻噪聲與元器件材料內(nèi)部的導(dǎo)電微粒的不連續(xù)性，以及半導(dǎo)體的摻雜濃度等工藝有關(guān)，在噪聲中包含大量器件物理特性信息，通過噪聲測試分析能得到噪聲與器件缺陷、材料以及結(jié)構(gòu)之間的關(guān)聯(lián), 所以電子元器件的低頻噪聲特性可以用作質(zhì)量和可靠性檢驗評估方法，也可以幫助提升產(chǎn)品品質(zhì)。我國是電子元器件產(chǎn)品生產(chǎn)和使用大國，基于低頻噪聲技術(shù)的電子元器件可靠性無損檢測標準對于促進低頻噪聲技術(shù)的發(fā)展應(yīng)用和提高電子元器件產(chǎn)品品質(zhì)具有重要意義。
電子系統(tǒng)以及電子器件噪聲測試與應(yīng)用起始于洛倫茲1912年對電子隨機運動的研究, 其后隨著電子系統(tǒng)與電子器件的發(fā)展, 人們對噪聲測試研究的范圍也更加廣泛。電子元器件低頻噪聲參數(shù)測試方法是制定基于低頻噪聲參數(shù)的電子元器件可靠性無損評價方法的基礎(chǔ)。
相關(guān)的標準包括：
SJ/T 11765晶體管低頻噪聲參數(shù)測試方法
SJ/T 11766光電耦合器件低頻噪聲參數(shù)測試方法
SJ/T 11767 二極管低頻噪聲參數(shù)測試方法
SJ/T 11768電阻器低頻噪聲參數(shù)測試方法
SJ/T 11769 電子元器件低頻噪聲參數(shù)測試方法 通用要求
參考SJ/T 11769標準5.2章節(jié)中，對低頻噪聲測試系統(tǒng)的要求：
a）測試頻率范圍：最低頻率不高于1Hz，最高頻率不低于300kHz或被測電子元器件噪聲參數(shù)要求的測試頻率上限的10倍。
b）測試系統(tǒng)采樣率大于測試頻率上限的2倍。
c）測試系統(tǒng)的前置放大器增益誤差≤±1%。
d）測試系統(tǒng)的時間序列測試準確度：時基不確定度≤2%，幅度不確定度≤5%。
e）測試系統(tǒng)的頻譜測試：頻譜分辨率優(yōu)于1Hz，頻率不確定度≤2%，幅度不確定度≤5%。
f）測試系統(tǒng)與被測電子元器件采取屏蔽盒等外界干擾抑制措施，以減少電、磁、光和機械等環(huán)境因素引入的干擾，同時采用低噪聲電源，減少系統(tǒng)自身的噪聲，從而保證測試系統(tǒng)本底噪聲比被測電子元器件的噪聲低一個數(shù)量級以上或滿足電子元器件噪聲測試的相關(guān)要求。
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