HAST老化測試廣泛用于IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命測試。加速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等)，加快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時間。用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。
HAST老化測試目的
為了提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等)，加快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時間，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應(yīng)增加了許多為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時間。
試驗(yàn)應(yīng)用范圍
HAST高加速老化測試是主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度，濕度，壓力，的各種條件來完成的，這些條件加速了水分穿透外部保護(hù)性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到模具/裝置上。HAST高加速老化測試已成為某些行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)，特別是在半導(dǎo)體，太陽能和其他工業(yè)中，作為標(biāo)準(zhǔn)溫度濕度偏差測試（85C/85%RH—1000小時）的快速有效替代方案。
HAST高加速老化測試的試驗(yàn)類別
1.低溫步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)
2.高溫步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)
3.快速熱循環(huán)試驗(yàn)
4.振動步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)
5.綜合應(yīng)力試驗(yàn)
6.工作應(yīng)力測試
檢測標(biāo)準(zhǔn)
IEC 60068-2-66:1994 Environmental testing-part2 :test methods-test Cx: damp heat，steady state(unsaturated pressurized vapour)
GB/T 2423.40-2013 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱