異物分析是一種專門用于檢測和分析產(chǎn)品上的微小嵌入異物、表面污染物以及析出物成分的技術(shù)。通過表面觀察、成分鑒定和適當(dāng)?shù)姆治鍪侄?，可以確定異物的性質(zhì)并找出污染源或配方不相容的部分。這種技術(shù)在日常生產(chǎn)和工作中非常重要，可以幫助及時發(fā)現(xiàn)并解決產(chǎn)品質(zhì)量問題，提高客戶滿意度。
異物的定義
異物指的是影響到產(chǎn)品外觀或使用，在生產(chǎn)和應(yīng)用的各個環(huán)節(jié)產(chǎn)生的非預(yù)期之內(nèi)的物質(zhì)。異物的產(chǎn)生原因有很多種，在產(chǎn)品生產(chǎn)使用過程中，由于生產(chǎn)工藝控制不規(guī)范或人為疏忽等原因，產(chǎn)品往往容易被污染、腐蝕、氧化等，增大了產(chǎn)品的不良率，對產(chǎn)品的使用性能帶來一定的影響，而生產(chǎn)行業(yè)一直以來面臨的難題是如何減少異物的形成及引入。
異物分析作用
快速判斷異物或雜質(zhì)的成分，分析產(chǎn)生原因，進行整改提升產(chǎn)品良率；
通過對異常物質(zhì)分析，進行配方完善；
消除生產(chǎn)隱患；
保障生產(chǎn)的穩(wěn)定性。
儀器儀表、家電、醫(yī)療、輕工、冶金等。
異物分析范圍
產(chǎn)品上的表面污染物、析出物等異常物質(zhì)。廣泛應(yīng)用于化工產(chǎn)品、航空產(chǎn)品及其零部件、汽車產(chǎn)品及其零部件、LCM系列產(chǎn)品、PCB&PCBA、電子元件產(chǎn)品及半導(dǎo)體制造業(yè)等。
異物分析方法
異物分析主要涉及三個方面，一是異物的有機物結(jié)構(gòu)分析，主要用紅外顯微鏡-FTIR；二是異物或材料表面的元素成分分析，主要用電子探針（EPMA）、掃描電鏡能譜儀（SEM-EDX）、多功能光電子能譜儀（XPS）、能量色散型微區(qū)X 射線熒光光譜儀（μEDX）等；三是表面觀察，主要用光學(xué)顯微鏡（OM）和電子顯微鏡（比如SEM）