高溫測試(高溫運(yùn)行、高溫貯存)的目的是確定軍民用設(shè)備、零部件在常溫條件下儲(chǔ)存和工作的儲(chǔ)存、使用的適應(yīng)性及耐久性。確認(rèn)材料高溫下的性能。高溫環(huán)境對(duì)設(shè)備的主要影響有:
a. 填充物和密封條軟化或融化;
b. 潤滑劑粘度降低，揮發(fā)加快，潤滑作用減小;
c. 電子電路穩(wěn)定性下降，絕緣損壞;
d. 加速高分子材料和絕緣材料老化，包括氧化、開裂、化學(xué)反應(yīng)等;
e. 材料膨脹造成機(jī)械應(yīng)力增大或磨損增大。 高溫條件下試件的失效模式
產(chǎn)品所使用零件、材料在高溫時(shí)可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象。高溫試驗(yàn)?zāi)芰?/span>
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GJB128A-97 《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》
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GJB4.2-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 高溫試驗(yàn)》
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GJB548A-96 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
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SJ/T 10325-92《汽車收放機(jī)環(huán)境試驗(yàn)要求和試驗(yàn)方法》4.1 高溫負(fù)荷試驗(yàn)
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GB/T13543-92《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》
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