溫升測(cè)試周期需要多久環(huán)境與可靠性試驗(yàn)的區(qū)別

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溫升測(cè)試周期需要多久，在GJB-889和相應(yīng)的MIL-STD-781D中規(guī)定了一套要據(jù)任務(wù)剖面確定環(huán)境剖面，再將環(huán)境剖面簡(jiǎn)化為試驗(yàn)剖面對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間可靠性考核的方法?？煽啃栽囼?yàn)一般不會(huì)對(duì)產(chǎn)品造成破壞，它需要模擬產(chǎn)品的工作狀態(tài)，所用的試驗(yàn)條件大部分是模擬工作中常遇到的較溫和的應(yīng)力環(huán)境，取值較環(huán)境試驗(yàn)低得多。

我司是一家主要從事電子及電器產(chǎn)品安全（LVD）、電磁兼容（EMC）、重金屬和有害物質(zhì)分析測(cè)試和認(rèn)證（RoHS，REACH、鹵素和偶?xì)洌┮约盁o(wú)線電通訊認(rèn)證測(cè)試機(jī)構(gòu)。

環(huán)境與可靠性試驗(yàn)的區(qū)別：環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)雖然關(guān)系緊密，但它們?cè)谠囼?yàn)?zāi)康?，所用環(huán)境應(yīng)力數(shù)量，環(huán)境力量值選用準(zhǔn)則，試驗(yàn)類型，試驗(yàn)時(shí)間存在截然的不同之處。

可靠性測(cè)試就是為了評(píng)估產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間內(nèi)，在預(yù)期的使用、運(yùn)輸或儲(chǔ)存等所有環(huán)境下，保持功能可靠性而進(jìn)行的活動(dòng)。是將產(chǎn)品暴露在自然的或人工的環(huán)境條件下經(jīng)受其作用，以評(píng)價(jià)產(chǎn)品在實(shí)際使用、運(yùn)輸和儲(chǔ)存的環(huán)境條件下的性能，并分析研究環(huán)境因素的影響程度及其作用機(jī)理。

溫升測(cè)試周期需要多久，低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)：將樣品放入低溫箱，使箱溫度降到-20℃，在受試樣品不工作的條件下存放16h，取出樣品回到室溫，再恢復(fù)2h，加電運(yùn)行測(cè)試程序進(jìn)行后檢驗(yàn)，受試樣品功能與操作應(yīng)正常，外觀無(wú)明顯偏差。為防止試驗(yàn)中受試樣品結(jié)霜和凝露，允許將受試樣品用聚薄膜密封后進(jìn)行試驗(yàn)，必要時(shí)還可以在密封套內(nèi)裝吸潮劑。

通過使用各種環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備模擬氣候環(huán)境中的高溫、低溫、高溫高濕以及溫度變化等情況，加速反應(yīng)產(chǎn)品在使用環(huán)境中的狀況，來(lái)驗(yàn)證其是否達(dá)到在研發(fā)、設(shè)計(jì)、制造中預(yù)期的質(zhì)量目標(biāo)，從而對(duì)產(chǎn)品整體進(jìn)行評(píng)估，以確定產(chǎn)品可靠性壽命。

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