針對(duì)材料件、電子元器件、電子組件、電子整機(jī)乃至電子系統(tǒng)的高可靠、長壽命指標(biāo)驗(yàn)證的需求，
高加速試驗(yàn)一般分為寶加速壽命試驗(yàn)和高加速應(yīng)力應(yīng)力篩選試驗(yàn)，高加速壽命試驗(yàn)（Highly Accelerated Life Testing，簡稱HALT試驗(yàn)）是一種利用快速高、低溫變換的震蕩體系來揭示電子和機(jī)械裝配件設(shè)計(jì)缺陷和不足的過程。HALT的目的是在產(chǎn)品開發(fā)的早期階段識(shí)別出產(chǎn)品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。HALT不是一種合格或者不合格的測試，是一種協(xié)助設(shè)計(jì)工程師改善產(chǎn)品可靠性的工具，沒有預(yù)先設(shè)定極限，極限由產(chǎn)品決定，逐步增加應(yīng)力，直至失效，試驗(yàn)中需要對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行監(jiān)測。HASS（Highly Accelerated Stress Screening）試驗(yàn)產(chǎn)品通過HALT試驗(yàn)得出操作或破壞極限值后所做的高加速應(yīng)力篩選,應(yīng)力低于HALT試驗(yàn)。
適用范圍：
可為電工電子、儀器儀表、汽車以及航天產(chǎn)品的模塊、通訊終端、部件以及整機(jī)等開展Halt/Hass試驗(yàn)。
測試標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 29309；
試驗(yàn)項(xiàng)目：
Halt試驗(yàn)類型 | 試驗(yàn)一般條件 | 應(yīng)用情況 |
低溫步進(jìn)應(yīng)力 | 1、以常溫或相關(guān)規(guī)范規(guī)定的溫度點(diǎn)作為起始溫度，開始試驗(yàn)； | 應(yīng)用廣泛 |
高溫步進(jìn)應(yīng)力 |
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