針對材料件、電子元器件、電子組件、電子整機乃至電子系統(tǒng)的高可靠、長壽命指標驗證的需求，
高加速試驗一般分為寶加速壽命試驗和高加速應力應力篩選試驗，高加速壽命試驗（Highly Accelerated Life Testing，簡稱HALT試驗）是一種利用快速高、低溫變換的震蕩體系來揭示電子和機械裝配件設計缺陷和不足的過程。HALT的目的是在產品開發(fā)的早期階段識別出產品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產品的可靠性。HALT不是一種合格或者不合格的測試，是一種協(xié)助設計工程師改善產品可靠性的工具，沒有預先設定極限，極限由產品決定，逐步增加應力，直至失效，試驗中需要對產品進行監(jiān)測。HASS（Highly Accelerated Stress Screening）試驗產品通過HALT試驗得出操作或破壞極限值后所做的高加速應力篩選,應力低于HALT試驗。
適用范圍：
可為電工電子、儀器儀表、汽車以及航天產品的模塊、通訊終端、部件以及整機等開展Halt/Hass試驗。
測試標準：
GB/T 29309；