電機(jī)產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)及電磁兼容EMC測(cè)試項(xiàng)目

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環(huán)境試驗(yàn)：

高溫貯存、低溫貯存、高溫啟動(dòng)、低溫啟動(dòng)、高溫工作、低溫工作、高低溫循環(huán)試驗(yàn)、恒定濕熱、交變濕熱、低氣壓試驗(yàn)、溫度沖擊試驗(yàn)、可靠性評(píng)價(jià)、IP防護(hù)等級(jí)認(rèn)證、振動(dòng)試驗(yàn)、沖擊試驗(yàn)、碰撞試驗(yàn)、電磁兼容（EMC）測(cè)試與整改試驗(yàn)。

EMC測(cè)試：

機(jī)箱端口輻射發(fā)射（騷擾）試驗(yàn)、電源/電信端口傳導(dǎo)發(fā)射（騷擾）試驗(yàn)、靜電放電ESD抗擾度、輻射電磁場(chǎng)RS試驗(yàn)、電快速脈沖群EFT抗擾度試驗(yàn)、浪涌（沖擊）試驗(yàn)、射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度、工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)、電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)、諧波電流、電壓變化、電壓波動(dòng)和閃爍,脈沖磁場(chǎng)，阻尼振蕩磁場(chǎng)、振鈴波、振蕩波。

檢測(cè)依據(jù)的基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)：

高溫試驗(yàn)：GB/T 2423.2-2008 ，IEC 60068-2-2:2007《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫》