高溫貯存試驗
一、試驗?zāi)康?/p>
通過高低溫試驗箱模擬環(huán)境溫度變化提高電子元器件環(huán)境溫度、濕度、溫度循環(huán)等適應(yīng)能力,加速元器件中可能發(fā)生或存在的化學(xué)反應(yīng)(如由水蒸汽或其他離子所引起的腐蝕作用,表面泄漏、污染以及金-鋁金屬化合物的產(chǎn)生等),提前消除潛在缺陷。
電子元器件的許多故障是由于體內(nèi)和表面的各種物理化學(xué)變化引起的。當(dāng)環(huán)境溫度升高后,化學(xué)反應(yīng)速率大大加快,故障過程也得到加速。有缺陷的元器件就會暴露。
高溫儲存試驗對表面污染、引線鍵合不良和氧化層缺陷有很好的篩選作用。
二、試驗原理
高溫儲存是在試驗箱中模擬高溫條件,對元器件施加高溫應(yīng)力(無電應(yīng)力),加快部件體內(nèi)和表面各種物理化學(xué)變化的化學(xué)反應(yīng)速率,加速故障過程,使有缺陷的部件盡快暴露;提前消除潛在缺陷。
高溫儲存篩選的特點:
對于工藝和設(shè)計水平較高的成熟設(shè)備,由于設(shè)備本身非常穩(wěn)定;最大的優(yōu)點是操作簡便易行??纱笈窟M(jìn)行試驗篩選,投資少,篩選效果好,是目前常用的篩選試驗項目。
三、試驗設(shè)備
高低溫試驗箱,適用于在高溫、低溫(交替)循環(huán)、恒溫變化下檢查基礎(chǔ)可靠性各項性能指標(biāo)的儀器設(shè)備。產(chǎn)品部件和材料可能在高溫下軟化、降低效率、特性變化、潛在損壞、氧化等現(xiàn)象。
四、試驗標(biāo)準(zhǔn)
高溫貯存試驗可參考標(biāo)準(zhǔn)GBT2423.1、GBT2423.2、GJB150.3A-2009、GJB150.4A-2009等。
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